Trace pro 杂散光模拟中重点取样

骑着乌龟去赛跑

Trace pro进行镜头杂散光分析过程中，很多资料中都提到需要对光学镜片表面定义“重点取样”；
如下图中Lens1 S1面 ，“重点取样”需要如何定义呢？（即下图右侧红框中参数需要如何设置），希望了解的朋友帮忙解答一下，谢谢！

zsj123456

b站有lighttools重点采样视频，可以看看。其实重点采样就是加快采样速度，提升效率，现在电脑强了，我感觉不重点也没啥事

加菲不会飞

这是手册中描述

ferrum

您好，请问一下这个问题解决了吗？我也遇到了此问题

scorebean

凭前阵子的印象回答一下
第一：importance sample 的光源只能是surface source，file source和gird source没有效果！！！
第二：照上面的的例子来看，所有数值都已经不用更改，只要把外圈半径设成比Lens S1大就可以

有Tracepro的电脑没有在手边，我有到电脑旁边的时候，再试一下

xmarshal

scorebean 发表于 2024-3-4 20:53
凭前阵子的印象回答一下
第一：importance sample 的光源只能是surface source，file source和gird source ...

我也一直没解决tracepro重点采样的问题，之前仿真建的都是格点光源，重点采样没有效果；后面换了lighttools，重点采样效果就很好，我觉得要使用重点采样的话lighttools可能比tracepro更好用一点