Applied Optics 第59卷第十三期-材料-锗的折射率

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卷 59，第13期，第3985-3991页（2020年）https://doi.org/10.1364/AO.382408

锗的折射率

John H.Burnett，Eric C.Benck，Simon G.Kaplan，Erik Stover和Adam Phenis摘要

本文提出了使用最小偏差折光法测量高质量单晶锗样品的折射率的方法，适用于22°C附近的温度以及2~14 μm的波长。测量的标准不确定度为 1.5×10-5至 4.2×10-5，通常随波长增加。本文提供了适合该范围数据的Sellmeier公式，并介绍了定制系统和程序的详细信息，以及对不确定性的详细分析。将这些结果与以前的测量结果进行了比较。

文章链接 https://www.osapublishing.org/ao/abstract.cfm?uri=ao-59-13-3985