关于一般商用成像光学系统截止频率的选择

dxydl

该贴是基于帖子《光学系统设计时成像探测器采样频率与自身截止频率关系》 的延伸讨论
原贴：http://www.optzmx.com/forum.php? ... amp;page=1#pid61090

在该贴中，oy87188 提出一个观点，可参考 光学系统截止频率与采样器的奈奎斯特采样频率 的比值来评价系统的表现。（详见原贴）
我觉得很有道理，但是这个说法隐藏了一个观点：即无论MTF值多小，只要频率小于奈奎斯特采样频率，探测器都可以进行采样。
首先这并不符合老式感光胶片的情况：感光胶片的分辨能力与对比度值有关，即不同空间频率所需对比度值不同（图表可见原贴3楼）——该关系又称为探测器的阈值曲线。

但是在多数使用CCD/CMOS的今天，是否还有这么一条曲线，又或者这条曲线的形状是否还与感光胶片相似（我看过的大多数芯片规格书都没有这么一条曲线）？

其次，如果存在这么一条曲线可以算出 光学系统+探测器 的综合截止频率，那么高于该频率的光（MTF值也低于一定值）会对芯片产生什么影响？是采样混叠还是别的？

同时，一般认为MTF越高越好，然而大多情况下MTF不会骤降，也就是说在CMOS的奈奎斯特采样频率处过高的MTF肯定会导致混叠，而若该处MTF低则画面效果不好，这又该如何抉择？

zhpbit

之前上过一个培训课，老师说MTF0.3=N，MTF0.5=0.5*N，MTF0.7=0.25*N