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【联合光科】ARGOS 2光学元件表面缺陷检测系统介绍

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    2022-5-24 09:07
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    发表于 2019-4-2 14:17 | 显示全部楼层 |阅读模式
    本帖最后由 联合光科 于 2021-7-6 17:21 编辑

    ARGOS 2光学元件表面缺陷检测系统
    自动评估高品质光学元件表面质量

    ARGOS是一种设计用于自动分析透明和反射元件表面缺陷的系统。ARGOS使用一台线扫描相机结合一个旋转台和高功率LED光源捕捉样品的高分辨率图像,光学元件的表面缺陷被确认和分辨,按照ISO 0110-7ISO 14997标准,以及美军标应用校准图像和处理算法。
    111.jpg

    特点:
    ARGOS 2可以快速检验整个表面
    提高产出和品质
    完全符合ISO 10110-7文件标准
    分析典型缺陷类型

    麻点                       长划痕                     密集缺陷                         崩边
    222.png
    校准

    333.png



    444.png
    Reference defects on glass created by focused ion beammiting
    玻璃上由聚焦离子束导致的缺陷参考




    精度指标
       
    精度
      
    1μm
    30次重新插入同一样品测量标准偏差
    能见度
    1μm
    最小可视缺陷达2.5um(取决于光学分辨率)
    重复性
    >99% for 5/1     0.16
    指定同等级
    >96% for 5/1     0.04
    最小可辩别的等级
    5/1     0.004
    麻点

    5/C1     0.01
    镀膜麻点

    5/L1     0.004
    划痕

    5/E 0.04
    边缘裂缝  崩边

      概述

    测试和验证
    镜头
    平面镜
    镜片

    缺陷类型
    麻点
    划痕
    边缘裂缝
    镀膜麻点

    用户友好界面
    通用夹具
    桌面式触摸屏

    555.jpg

    可选项
    气流去除灰尘
    针对大产量的电动聚焦轴设计
    自动聚焦(圆形元件)
    2轴同时扫描
    扩展井深
    自动上下料

    666.jpg



    指标
       
    表面材料
      
    玻璃、金属、半导体
    最小缺陷等级
    5/1     0.004
    最大样品直径
    45mm
    最大径向深度
    1mm
    测试时间
    2s/ <20s / < 60s
    图像尺寸
    256 mio.pixel
    图像分辨率
    0.0028mm / pixel



    测试报告示例

    总体信息
       
    测试机构
      
    DIOPTIC GmbH Bergstr.92A 69469 Weinheim
    检验员
    Dr.Arno F. Warken
    日期
    13.04.2016
    标准
    ISO 10110-7

    设备信息
       
    样品编号
      
    20160413_0028
    测试设备
    ARGOS, S/N 003
    软件版本
    ARGOS 1.1
    参数设置
    R0035,12.02.2016
    有效区域不确定度
    < 5% for grade 0.025

    样品
       
    图像编号
      
    3279
    描述
    Batch 001,Sample 025
    生产批号
    11.04 .2016
    器件类型
    trans missive

       
    直径
      
    15.5mm
    方向标识
    None
    测试方法
    IM
    表面参数
    5/ 2     0.160;L1      0.010
    概览
    777.png

    最大瑕疵
       
    No.
      
    Position 位置
    Type* 类型
    Grade 级别
    1
    R=5.9mm,Φ=128.6’
    S
    0.010mm
    2
    R=6.8mm,Φ=18.9’
    D
    0.063mm
    *D=Dig, S=Scratch. C=Coating Imperfection  E=Edge Chip
    888.png


    Summary 总结
      
      
    Specification 参数
    Detected 探测数据
    Result 结果
    Imperfection concentration
       
    缺陷集中度
    ISO 10110-7
    NO
    Passed
    Largest dig grade
       
    最大麻点
    0.160 mm
    0.063 mm
    Passed
    Effective area
       
    有效区域
    0.051mm2
    0.007 mm2
    Passed
    Largest scratch width 最大划痕宽度
    0.010mm
    0.010 mm
    Passed
    Effective scratch width 有效划痕宽度
    0.010mm
    0.010 mm
    Passed

    (测评样品为15.5mm平面光学镜片,系统进行自校准后安装样品测试时间)

    ARGOS2 光学元件缺陷检测视频

    QBH端面缺陷检测系统的使用视频。

    Dioptic GmbH公司成立于1999年,现有主要产品/服务有:光学设计/衍射光学元件/红外光学元件/表面缺陷测试系统ARGOS(光学元件缺陷检测、QBH端面缺陷检测)等。联合光科技代理Dioptic GmbH的各类产品。关于任何Dioptic产品的需求,都可以联系联合光科技哦~
    ARGOS2产品页面:

    更多内容尽在联合光科官网

    咨询电话:010-62112301

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