专利复现（用于偏光晶片的检验方法）

Binary

最近看了一篇专利很有意思，大概讲的就是用偏振光去检测晶体表面缺陷的一种装置

来对这个专利去进行相关的复现和模拟仿真，不知道有没有做过这方面的大家可以一起交流

Binary

用散射模型代替表面缺陷进行模拟，建立了一个一样的模型，然后用不同的偏振光去模拟。需要详细的镜头文件可以联系工作人员http://www.optzmx.com/thread-31756-1-1.html